Атомно-силовые микроскопы, ИК-микроскопы
Атомно-силовой микроскоп (АСМ)— сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Определение шероховатости обработанных поверхностей и аккуратный контроль микроскопической структуры являются двумя важными областями применения АСМ.
Атомно-силовой микроскоп позволяет проводить исследования различных образцов, таких как органические материалы и композиты, включая многослойные полимерные пленки, наночастицы, билогические макромолекулы, клетки и другие материалы.
Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. Также предлагаем системы для ИК-анализа, с помощью которых исследуются поверхности при комбинированных методах АСМ и инфракрасной спектроскопии. На сайте вы найдете атомно-силовые микроскопы и ИК микроскопы производителей Thermo Fisher Scientific, PerkinElmer, JPK Instruments, Anasys Instruments.
Атомно-силовой микроскоп позволяет проводить исследования различных образцов, таких как органические материалы и композиты, включая многослойные полимерные пленки, наночастицы, билогические макромолекулы, клетки и другие материалы.
Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. Также предлагаем системы для ИК-анализа, с помощью которых исследуются поверхности при комбинированных методах АСМ и инфракрасной спектроскопии. На сайте вы найдете атомно-силовые микроскопы и ИК микроскопы производителей Thermo Fisher Scientific, PerkinElmer, JPK Instruments, Anasys Instruments.
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76
- Под заказЦену уточняйте+375 (29) 370-80-76