Сверхбыстрый сканер — теперь АСМ-изображения высокого разрешения можно получать в считанные секунды на самых сложных образцах!
При помощи нового АСМ Nanowizard Ultra Speed, комбинированного со стандартным инвертированным микроскопом, мощным конденсором, сканером Fast Scan, теперь возможно быстрое сканирование живых клеток в чашке Петри, а так же сканирование динамики единичных молекул. Все эксперименты выполняются с контролем состава и температуры окружающей среды и могут быть связаны с внешними устройствами. Эксперименты по изучению смены фаз в полимерах, кристаллизации, роста пленок и прохождения электрохимических реакций теперь могут фиксироваться в реальном времени.
Обновленная система детектирования отклонения кантилевера позволяет добиваться максимально низких уровней шумов
Быстродействующая электронная начинка вкупе с продуманной механической конструкцией, а так же вновь разработанным усилительным каналом позволяет получать непревзойденные результаты на самых «сложных» образцах.
Использование специальной конструкции сканера в предметном столе позволяет исключить краевые эффекты сканирования, а продвинутая система сканирования с замкнутой петлей обратной связи, построенной на емкостных датчиках, позволяет достигать атомарного разрешения и практически нивелировать ошибки пьезоэлементов.
|
Шумовые характеристики АСМ NanoWizard Ultra Speed |
|
|
Шум по XY |
<0,2 нм RMS в режиме замкнутой обратной связи |
|
Шум по Z |
<0,035 нм RMS |
|
Шум детектора по Z |
<60 пм RMS |
|
Нелинейность сканера по XY |
<0,03% |
|
Шум по каналу регистрации отклонения кантилевера в диапазоне 0,1-1 кГц |
<2 пм RMS |
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | JPK Instruments |
| Страна производитель | Германия |
| Состояние | Новое |
- Цена: Цену уточняйте


Отправка с 15 мая 2026