Начать продавать на Deal.by
Корзина
Нет отзывов, добавить
+375 (29) 370-80-76
Корзина

Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics, JPK Instruments

Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics, JPK Instruments
  • Под заказ
clockОтправка с 15 мая 2026

Цену уточняйте

+375 (29) 370-80-76

Заказ только по телефону

Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics, JPK InstrumentsАтомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics, JPK Instruments
Цену уточняйте
Под заказ
+375 (29) 370-80-76
Описание
Характеристики
Информация для заказа

Атомно-силовой микроскоп NanoWizard 3 NanoOptics оптимизирован под широкий круг применений: от получения оптического изображения в ближнепольном режиме до экспериментов, связанных с взаимодействием света с поверхностью образца, таких как поглощение, возбуждение, нелинейные эффекты и эффекты тушения.

Комплексные решения

Теперь АСМ позволяет совмещать сканирующие зондовые методики с такими инструментами исследований как: Рамановская спектроскопия, зондово-усиленная Рамановская спектроскопия, апертурная ближнепольная микроскопия и микроскопия расссеянного света, конфокальная микроскопия, а также наноманипуляции

Совметимость с инвертированными микроскопами

Платформа NanoWizard 3 совместима с основными коммерчески доступными инвертированными микроскопами исследовательского класса (Zeiss Axiovert, Axio Observer, Nikon TE, Ti, Olympus IX и Leica DMI)

Система интеграции оптического и АСМ изображений Direct OverlayTM с использованием режимов сканирования образцом и кантилевером.

 

Особенности NanoOptics:

  • Полная интеграция с инвертированными оптическими микроскопами, Рамановскими спектросскопами, устройствами счета фотонов
  • Высочайшая стабильность и крайне низкий уровень теплового дрейфа для проведения длительных экспериментов
  • Эксперименты со сканированием в режиме замкнутой обратной связи одновременно по 6 осям (три оси сканирования кантилевером и три- образцом) с использованием модуля TAOTM
  • Эффективное применение в экспериментах на воздухе или в жидкости с превосходной разрешающей способностью, низким уровнем шума и максимальной гибкостью
  • Расширенные возможности благодаря новым методикам и приспособлениям, полностью цифрового контроллера VortisTM и программного обеспечения NanoWizard
  • Использование лазера 980 нм для определения отклонения кантилевера предотвращает появление перекрестных помех
  • Широкий спектр методик сканирования, таких как: СТМ, микроскопия проводимости, ближнепольная микроскопия 

 

 

Основные
Производитель JPK Instruments
Страна производительГермания
СостояниеНовое
  • Цена: Цену уточняйте