Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ, РЭМ) ― исследовательские инструменты, которые применяются в решении повседневных задач там, где требуется высокое разрешение. Растровые электронные микроскопы предназначены для промышленных предприятий, исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Линейка РЭМ представленных на сайте ― универсальные сканирующие оптические приборы, работающие в трех режимах:

• высоковакуумный,
• низковакуумный,
• естественной среды.

Способ работы РЭМ зависит от устройства регистрации генерируемого сигнала:

• отраженных электронов,
• вторичных электронов,
• светового сигнала,
• рентгеновского излучения,
• потери тока на пробе.

Разрешающая способность СЭМ зависит от размера луча, материала мишени и оптической системы, которая фокусирует пучок. Микроскоп способен отображать большую область материала, исследовать крупные мишени, получать разрешение до единиц нанометров.

В отдельных случаях можно изучать микроструктуру непроводящего образца, это возможно при работе на ускоряющих напряжениях от 500 В. Т.е. при низких ускоряющих напряжениях нанесения токопроводящего покрытия не требуется. Объектами исследования СЭМ являются образцы в виде шлифа, пленки, излома, а также порошки различной дисперсности.

Для исследования структуры материала СЭМ часто сочетают с дополнительными приборами, например, с рентгеновским спектрометром, который увеличивает область возбуждения до 1 мкм.

Необходимость купить сканирующий электронный микроскоп возникает у предприятий занимающихся производством электроники, потому что это единственный прибор способный воспроизвести поверхность микросхемы и выявить ее дефект. Вы решаете производственные задачи с применением ЭМ? Тогда звоните, получите развернутую информацию по интересующему оптическому оборудованию.