Сканирующий зондовый микроскоп Asylum Research MFP-3D™ Infinity

Описание:

Микроскопы семейства MFP-3D на сегодняшний день являются наиболее гибкимии и производительными зондовыми микроскопами в своем классе. Они позволяют исследовать образцы большого размера и предоставляют широчайший набор методик и опций для работы с твердотельными образцами, полимерами и биологическими объектами, как на воздухе, так и в жидкости. Микроскопы MFP-3D обеспечат высочайшую точность и результативность Ваших исследований.

Модели:

• MFP-3D Infinity: флагман семейства микроскопов MFP-3D. Он вобрал все лучшее от MFP-3D Classic но оснащен новой быстрой электроникой и прецизионной механикой.
• MFP-3D Classic: производительность и универсальность для среднего бюджета. Исследование образцов большого размера, широкий набор методик и опций.
• MFP-3D-BIO: АСМ для исследований биологических объектов, сочетающий молекулярное разрешение АСМ с инвертированной оптической микроскопией.
• MFP-3D Origin: упрощенная версия микроскопа MFP-3D для небольшого бюджета. Допускает последующий апгрейд до полноценного MFP-3D Classic или BIO с полным набором опций.

Технические особенности MFP-3D Infinity

Микроскоп MFP-3D Infinity − новый член семейства микроскопов MFP-3D. Он вобрал все лучшее от MFP-3D Classic но оснащен новой быстрой электроникой и прецизионной механикой. MFP-3D Infinity полностью совместим с широким набором модулей, приставок и аксессуаров, доступных для линейки микроскопов MFP-3D.

Еще точнее, еще быстрее!

Основные технические новшесва, заложенные в конструкцию MFP-3D Infinity:

• Точное сканирование обеспечено сверхнизким уровнем шумов датчиков позиционирования: X,Y <150 пм, Z <35 пм
• Увеличенный частотный диапазон работы Z сканнера и детектора обеспечивают точный контроль силы и высокую скорость сканирования.
• Новый облегченный алюминиевый корпус головной части для комфортной работы.
• Новая оптическая система обеспечивает изображения высокого разрешения при наблюдении как сверху, так и снизу образца.
   

Новые программные опции

GetStarted:

• Автоматический подбор параметров сканирования в режиме прерывистого контакта (tapping mode) (setpoint, усиление сигнала обратной связи, скорость сканирования) для получения изображений превосходного качества.
• Интеллектуальный «предсказывающий» алгоритм – яснее и надежнее, чем методы итерационной оптимизации других производителей, часто сводящиеся к уменьшению скорости и увеличению силы.
• Получение высококачественного изображения с первой линии скана – нет повреждений зонда или образца в процессе оптимизации параметров.

GetReal™:

• Калибровка жесткости кантилевера и чувствительности без касания поверхности зондом!
• Позволяет получать качественные и точные  силовые данные.
• Быстро, просто и точно!

Дополнительные возможности

Новый быстрый контроллер позволяет сканировать в различных режимах, получать и обрабатывать большой поток данных

• AM-FM Viscoelastic Mapping Mode* - получение информации одновременно о модулях упругости и потерь. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 50 кПа – 300 ГПа. Сканирование со скоростью обычного режима прерывистого контакта.
• Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode* - получение информации одновременно о модулях упругости и потерь. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 1 ГПа – 300 ГПа. Частота сканирования строк 0,1-2Гц.
• Fast Force Mapping Mode* – режим быстрой регистрации силовых кривых. Пиксельная скорость до 300 Гц! Изображение сохраняет каждую силовую кривую, возможна офлайн обработка данных для расчета модулей материала, адгезии и других свойств. Наилучшие результаты для материалов с модулем упругости 10 кПА – 100 ГПа.

** Изображение на рисунке - смесь полистирола (E’~3ГПа) и поликапролактона (E’~350МПа). Изображение получено в режиме Fast force mapping. Модуль упругости показан на 3D топографии, скан 4 мкм.

* - Функция является опцией и требует дополнительных модулей, не входящих в стандартную комплектацию

Методики СЗМ микроскопа MFP-3D Infinity

Стандартные:

• контактный режим (contact mode);
• метод латеральных сил (LFM);
• режим прерывистого контакта (tapping, AC mode), включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера;
• Dual AC™. Технология основана на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности;
• электро-силовая микроскопия (EFM);
• метод зонда кельвина (KPFM);
• магнитно-силовая микроскопия (MFM);
• микроскопия пьезо-отклика (PFM);
• силовые измерения (Force curves) в контактном и полуконтактном режиме;
• MicroAngelo - нанолитография и наноманипулирование;
• сканирование в жидкости;

Опциональные режимы:

• микроскопия проводимости (CAFM). Модуль ORCA™ обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении;
• AM-FM Viscoelastic Mapping Mode – исследование механических свойств поверхности, количественное определение модулей упругости и потерь;
• сканирующая туннельная микроскопия (STM);
• сканирующая тепловая микроскопия (SThM);
• приложение внешнего магнитного поля для магнитно-силовой микроскопии;
• определение температуры плавления локальной области образца (Ztherm);
• высоковольтная микроскопия пьезо-отклика (PFM), подача до ±150 В на зонд. Исследование пробоя диэлектриков;
• наноиндентирование.