Наноспектрометр с ИК-Фурье спектрометром для БИК области JASCO NFS-220FT/320FT

Описание:

Компания Jasco в своих сканирующих оптических наноспектрометрах ближнего поля  предоставила возможность преодолеть дифракционный предел и изучать нанообъекты.

Благодаря появлению серии NFS-220FT/320FT стало возможным регистрировать излучение с длинами волн, превышающими 1 мкм. Это достигается применением высокочувствительного ИК-Фурье спектрометра с детектором InGaAs, что было невозможным для кремниевого детектора.

В сканирующем оптическом микроскопе ближнего поля источник излучения с пространственным разрешением меньшим, чем длина волны, используется в качестве сканирующего зонда. Зонд сканирует поверхность образца на высоте в несколько нанометров, пьезоэлектрический манипулятор поддерживает зазор между зондом и поверхностью с помощью системы обратной связи между датчиком и блоком электроники. На выходе конуса зонда имеется небольшое отверстие, оптоволоконный световод покрыт золотом. Облучая образец с помощью источника "ближнего поля", создаваемого диафрагмой зонда, можно получать оптические изображения с пространственным разрешением от 50 нм, преодолевая "дифракционный предел".

Программный модуль "Image Manager":

Модуль управления изображением позволяет получить трехмерную картину высокого разрешения, включая и топологию поверхности образца.
При отображении интенсивности и площали сигналов пиков/распределения, а также значения полуширины, программный модуль позволяет получить удивительно реалистичные 3D изображения.

Кроме того, становится возможным эффективно извлекать необходимую информацию с помощью различных функций обработки изображений и инструментов анализа больших объемов экспериментальных данных.

Серия NFS-220FT/320FT включает в себя 2 модели:

• NFS-220FT - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля для проведения экспериментов при комнатной температуре.
• NFS-320FT - сканирующий оптический наноспектрометр ближнего поля с криостатом для проведения низкотемпературных экспериментов. Поток газообразного гелия обеспечивает охлаждение образца до 10K и ниже.

Особенности:

• Охватывает ближний ИК диапазон, который широко используется в области оптоволоконной связи.
• Топологическое картирование образца из практически любого материала: органического, неорганического, металла, биополимера и т.д.
• Высокочувствительный ИК-Фурье спектрометр в сочетании с зондом ближнего поля позволяет регистрировать спектры люминесценции в ближнем ИК диапазоне.
• Встроенный лазерный источник излучения.
• Через окно для внешнего лазера возможен ввод дополнительного лазера возбуждения.

Технические характеристики: