Описание
Характеристики
Информация для заказа
Описание
Ключевые особенности:
- Два прибора в одном – мощный Эшелле-спектрометр комбинационного рассеивания и Раман-микроскоп;
- Соединение со спектрометром через волоконную оптику;
- Возможность использования моторизированного предметного столика.
Технические характеристики
|
Принцип |
приставка для микрообразцов к Раман-спектрометру с Эшелле-оптикой и CCD-детектором |
|
Источник |
БИК лазер 250 мВт, 785 нм |
|
Детектор |
CCD 1024 х 256 пикселов |
|
Спектральный диапазон |
95 - 3500 см-1 (лазер 785 нм) |
|
Разрешение |
4 см-1 (спектральное), 1 см-1 (пиксельное) |
|
Размер светового пятна возбуждающего излучения |
• 10 мкм |
|
Осветитель |
• галогеновая лампа, 100 Вт |
|
Объективы |
• 20х и 50х - стандарт, 100х - опция |
|
Режимы работы |
• отражение, пропускание, темное поле |
|
Диапазон движения столика |
• 114 х 75 х 25 мм |
|
Точность позиционирования |
• 0,1 мкм |
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Perkin Elmer |
| Страна производитель | США |
- Цена: Цену уточняйте


Отправка с 24 декабря 2025