Начать продавать на Deal.by
Корзина
Нет отзывов, добавить
+375 (29) 370-80-76
Корзина

Акустический микроскоп Sonoscan C-SAM Gen6™

Акустический микроскоп Sonoscan C-SAM Gen6™
  • Под заказ
clockОтправка с 01 мая 2026

Цену уточняйте

+375 (29) 370-80-76

Заказ только по телефону

Акустический микроскоп Sonoscan C-SAM Gen6™Акустический микроскоп Sonoscan C-SAM Gen6™
Цену уточняйте
Под заказ
+375 (29) 370-80-76
Описание
Характеристики
Информация для заказа

Описание:

6-ое поколение технологии C-SAM. Самый совершенный и полнофункциональный  акустический микроскоп C-SAM, предназначен для лабораторных исследований и специализированных применений, требующих высокого разрешения при построении изображений.

Сканирующий акустический микроскоп Gen6™, работающий в С режиме, является 6 поколением инструментов акустической микроскопии (AMI) и обладает наиболее широким спектром аналитических возможностей, точности и разрешения.

Акустический микроскоп Gen6™ является продолжением хорошо известного и зарекомендовавшего себя акустического микроскопа Gen5™. Акустический микроскоп Gen6™ обладает множеством новых аналитических возможностей, а также новой, интуитивно понятной и простой в использовании операционной платформой Sonolytics.

Акустический микроскоп способен удовлетворять потребности пользователя в неразрушающем анализе неисправностей, разработке технологий, научно-исследовательских и опытно-конструкторских разработках, определении высокого уровня надежности изделий военного назначения или низко/среднеобъемном сканировании. Акустический микроскоп Gen6™ работает по технологии C-SAM, который может удовлетворять всем вашим требованиям и который обладает резервными возможностями для проверки разрабатываемых компонентов. Акустический микроскоп Gen6™ идеально подходит для таких применений, как   микроэлектроника,  МЭМС-устройства, светодиоды освещения, силовые модули, технологии солнечной энергетики и солнечные батареи, современные материалы и т.д.

Как основной инструмент в лабораторном анализе акустический микроскоп Gen6™ имеет, в целях упрощения анализа, стандартную функцию SonoSimulator™ для анализа тонко многослойных компонентов. Расширенные возможности, реализованные в микроскопе компанией Sonoscan, такие как технология PolyGate™, функция Virtual Rescanning Mode (VRM)™ (функция виртуального режима повторного сканирования) и имеющаяся функция Frequency Domain Imaging (FDI™) (функция построения изображения среды в частотной области) повышают качество и достоверность данных. Благодаря большой, легкодоступной, освещенной области сканирования и инерциально-сбалансированному сканеру, исключающему вибрации, акустический микроскоп Gen6™ способен эффективно производить сканирование как одной части так и всей полупроводниковой пластины размером до 300 мм.

В дополнение к ведущим примененным инновациям компании Sonoscan акустический микроскоп Gen6™ был непосредственно разработан с учетом потребностей пользователей. Эргономия микроскопа обеспечивает удобство в использовании. Улучшенные версии программного обеспечения Sonolytics™, и новое интуитивно понятное меню интерфейса пользователя максимизируют количество результатов при экономии времени оператора. Кроме того, его освещаемая вертикальная опорная платформа со свободным доступом, предназначенная для расположения образцов, упрощает процессы загрузки и выгрузки образцов. Акустический микроскоп Gen6™ является продуктом нового поколения C-SAM имеет широчайший набор технологий, эргономические характеристики и передовые функции, разработанные компанией Sonoscan.

 

Особенности:

  • Реализованная технология PolyGate™ с функциями Multi-Gate™ и ProbingGate™ обеспечивают однофокусное и многофокусное построение изображений.
  • До 100 сканирующих областей на один канал с частотой  2 млрд. выборок в секунду.
  • Возможность работы в ОС Windows® 7 Ultimate для выбора языка и работы в 64-разрядной системе.
  • Инерциально-сбалансированный линейный сканер (№ патента 7 584 664) позволяет минимизировать вибрации и обеспечивает получение оптимальных результатов сканирования.
  • Вертикальная сканирующая опорная платформа и держатель образца.
  • Область сканирования со свободным доступом упрощает процессы загрузки и выгрузки образцов, а также обеспечивает сканирование JEDEC-лотков или полупроводниковых пластин размером до 300 мм.
  • Рециркуляция воды и опциональная встроенная регулировка температуры.
  • Технология SonoSimulator для упрощения процедуры анализа элементов кристаллов с многоярусным размещением. 
  • Функция Digital Image Analysis (DIA)™ (функция цифрового анализа  изображения) использует продвинутые алгоритмы для определения количества акустических данных и позволяет задавать точные, автоматические критерии, критерии типа «годен/не годен».
  • Функция Virtual Rescanning Mode (VRM)™ (функция виртуального режима повторного сканирования) сохраняет полные данные и позволяет проводить полный анализ образца даже при его отсутствии.
Основные
Производитель Sonoscan
Страна производительСША
СостояниеНовое
  • Цена: Цену уточняйте