Система для просвечивающей электронной микроскопии EDAX TEAM™ EDS SYSTEM FOR SEM

Описание:

Система TEAM™ EDS для сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) с детектором серии Apollo X Silicon Drift Detector (SDD) предлагается для широкого круга применений. Система TEAM™ EDS с функциями самоконтроля, анализа и отчётов – самый наглядный и удобный в работе аналитический инструмент, доступный в СЭМ.

Функции технологического процесса автоматизированы на базе накопленных за долгие годы знаний и профессионального опыта специалистов фирмы EDAX. Запуск, Анализ, и Отчет легкие этапы, поскольку система TEAM™ EDS автоматизирует каждую задачу. Это - единственная технология спектроскопии с дисперсией по энергии, которая комбинирует изящную организацию работы и руководство для новичка с новейшими расширенными функциональными возможностями опытного пользователя. С ней Вы располагаете информацией специалиста по EDS в любой момент.

Система TEAM™ EDS для СЭМ была разработана для экономии времени и обеспечения точных и воспроизводимых результатов для широкого круга применений. Система и сенсорный экран позволят легко и быстро получить необходимые вам результаты, как при накоплении спектра просто, так и при выполнении комплексного анализа фаз. Система TEAM™ EDS имеет встроенный современный интерфейс, оптимизированный для работы в многоядерных и многопроцессорных средах. Наша система TEAM™ EDS предлагает функции технологии самоконтроля, анализа и отчётов для запуска, анализа, и отчетов, какой нет ни в одной другой системе. Основные компоненты, которые составляют эти функциональные возможности, включают:

Запуск

Внешняя панель Smart Track’s контролирует статус системы; показывает условия анализа для детектора, столика объектов, колонны, и кроме того, обеспечивает доступ к средствам управления. Smart технология получения информации автоматизирует решение рутинных задач, упрощает работу и экономит время.

Анализ

Smart картирование фаз обеспечивает более высокий уровень анализа, автоматически накапливая спектры и производя карты распределения элементов и связанные с ними спектры. Анализ в точке и линейное сканирование с последующей идентификацией (Expert) позволяют быстрое и легкое измерение в выбранных областях отдельных точек и массива точек.

Отчеты

Smart обзор данных обеспечивает новый формат и дерево проекта для быстрого обзора и составления отчета изображений, карт и спектров. В отчетах доступно динамическое редактирование данных.