Начать продавать на Deal.by
Корзина
Нет отзывов, добавить
+375 (29) 370-80-76
Корзина

Система микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM

Система микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM
  • Под заказ
clockОтправка с 15 мая 2026

Цену уточняйте

+375 (29) 370-80-76

Заказ только по телефону

Система микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIMСистема микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM
Цену уточняйте
Под заказ
+375 (29) 370-80-76
Описание
Характеристики
Информация для заказа

Описание

Система микроскопии сверхвысокого разрешения N-SIM от компании Nikon построена на использовании технологии SIM (structured illumination microscopy), т.е. микроскопии структурированного освещения.

Благодаря использованию лицензированной технологии структурированного освещения система микроскопии сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM, оснащённая объективом CFI Apo TIRF 100x oil (числовая апертура 1.49), имеет разрешение, в два раза превышающее разрешение обычных оптических микроскопов.

Система сверхвысокого разрешения N-SIM (микроскопия структурированного освещения) от компании Nikon отлично подходит для получения изображений живых клеток в режиме реального времени с максимальной скоростью. Система сверхвысокого разрешения N-SIM от Nikon – это эффективный и высокоточный инструмент для исследования клеточных структур и биологических объектов.

Новая методика освещения Nikon TIRF-SIM (флуоресценция полного внутреннего отражения - микроскопия структурированного освещения) позволяет проводить наблюдения по методу флуоресценции полного внутреннего отражения (TIRF) с более высоким разрешением, чем обычные микроскопы TIRF, и получать более детальную информацию о зонах вблизи клеточных мембран.

Новая методика освещения Nikon 3D-SIM позволяет делать оптические срезы образцов, за счёт чего возможна визуализация более сложных клеточных структур при более высоком пространственном разрешении глубиной до 20 мкм.

 

Технические характеристики

 

Сверхвысокое разрешение

Боковое (XY) ~85–110 нм (в зависимости от длины волны и оптики)

Осевое (Z) ~200–250 нм (в зависимости от длины волны и оптики)

Диапазон сдвига вдоль оси при трехмерной съемке до 20 мкм

Скорость

TIRF и 2D SIM = 0.6 кадр/с

3D SIM = 1.0 кадр/с

Микроскоп

Инвертированный исследовательский микроскоп Nikon Ti-E с системой Perfect Focus и осветителем SIM

Объективы

Apo TIRF 100X 1,49 (МИ)

Plan Apo λS IR 60X 1.27 (водная иммерсия)

Имеющиеся в наличии лазеры, AOTF-модулируемые

457 нм (100 мВт)

488 нм (200 мВт)

515 нм (50 мВт)

532 нм (100 мВт)

561 нм (100 мВт)

Фотокамера

Камера EM-CCD iXon DU897 (Andor)

Антивибрационный оптический стол

Необходим

Рабочая температура

+25 °C ±0.5°C

Рабочая влажность

40-50% ± 3%

 

Основные
Производитель Nikon
Страна производительЯпония
СостояниеНовое
  • Цена: Цену уточняйте