Спектральные визуализирующие эллипсометры Accurion
- Под заказ
Отправка с 18 мая 2026Цену уточняйте
Визуализирующий эллипсометр Accurion Nanofilm_EP4 обладает набором уникальных особенностей в сочетании с in-situ визуализацией в реальном времени. Это позволяет наблюдать структуру образца на микроскопическом уровне и измерять такие параметры, как: толщину покрытий, коэффициенты преломления и поглощения с картированием выбранной поверхности образца по этим параметрам.
Возможность комбинирования этого прибора с другими методами, такими, как: атомно-силовая микроскопия (АСМ), кварцевые микровесы, спектроскопия комбинационного рассеяния, рефлектометрия и другими, дает возможность получения всей необходимой информации о составе и структуре образца.
Отличительные особенности и области применения эллипсометров Accurion:
• Прямая in-situ визуализация образца с наилучшим латеральным разрешением по сравнению с коммерчески доступными аналогами.
• Исследования в диапазоне от 250 нм до 1700 нм с возможностью получения изображений на любой из длин волн в этом диапазоне.
• Большой набор аксессуаров для различных применений (ячейки для исследований границ раздела твердое — жидкость, жидкость — жидкость, контроля температуры, электрохимическая ячейка и многое другое).
• Запатентованная концепция «region of interest (ROI)» дает возможность параллельного исследования нескольких областей внутри выбранного поля зрения.
• Изучение динамических структур, таких как, движущиеся и образующиеся монослои на водной поверхности, растущие и адсорбированные слои, взаимодействие протеинов и многое другое.
• Изящное решение проблемы фоновых отражений при исследовании образцов на тонких прозрачных подложках beam cutter.
• Уникальная разработка среди объективов Nanochromat_2 для высокоразрешающей контрастной визуализации в диапазоне ультрафиолет (УФ) – ближний инфракрасный (БИК) свет с минимизированными искажающими эффетами.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Accurion |
| Страна производитель | Германия |
- Цена: Цену уточняйте
