Рентгеновской микроскоп Zeiss Xradia UltraXRM-S

Описание:

В настоящее время для серии UltraXRM-S доступна работа с разрешением до 30 нм, что позволяет получать информацию о микроскопических структурах и процессах, которая ранее была недоступна при работе с традиционными рентгеновскими технологиями визуализации.

Неотъемлемой чертой синхротронных источников является легкая настройка энергии рентгеновского излучения, что позволяет серии UltraXRM-S распознавать различные элементы в объеме и собирать данные абсорбционной спектроскопии с пространственным разрешением. Несколько встроенных переключаемых конфигураций рентгеновской оптики обеспечивают доступность использования рентгеновских лучей с широким спектром энергий: от обычно используемых 5 - 11 кэВ в конфигурации высокой энергии до 280 - 540 эВ и ниже в конфигурации низкой энергии. Современные технологии для повышения отражения конденсоров в сочетании с использованием источников синхротронного излучения второго и третьего поколения с высокой яркостью обеспечивают быстрое и точное получение трехмерных изображений. Интегрированный режим фазового контраста Цернике совмещенный с простой в использовании юстировочной системой позволяет визуализировать образцы с низким коэффициентом поглощения рентгеновского излучения в установленном режиме различных энергий фотонов.

Преимущества:

• Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения
• Сверхвысокое разрешение до 30 нм
• Элементный контраст и абсорбционная спектроскопия поглощения рентгеновских лучей при максимальном пространственном разрешении
• Небольшое время экспозиции при работе на синхротронных источниках второго и третьего поколения
• Интегрированный режим фазового контраста Цернике (при высоких энергиях фотонов)
• Специализированная система транспортировки проб в криогенном состоянии для минимизации радиационных повреждений органических образцов (для низко-энергетичных фотонов)

Характеристики

• Разрешение30 – 60 нм
• Диапазон энергий 5 – 11 кэВ (модель UltraXRM-S200)/ 200 – 2700 кэВ (модель UltraXRM-S220)
• Среда в камере вакуум или атмосфера