Система для компьютерной томографии Zeiss Xradia UltraXRM-L200
- Под заказ
Отправка с 15 мая 2026Цену уточняйте
Описание:
Сверхвысокое разрешение. Неразрушающая 3D-визуализация.
Революционная система UltraXRM-L200 объединяет лабораторный источник рентгеновского излучения с высокой плотностью потока и запатентованную систему рентгеновской оптики, что дает возможность в лабораторных условиях использовать микроскоп в качестве сканера для компьютерной томографии сверхвысокого разрешения. Неразрушающая визуализация с использованием рентгеновских лучей позволяет получать подробные трехмерные изображения внутренней структуры исследуемых объектов без необходимости в их резке или приготовлении срезов. Система UltraXRM-L200 позволяет получить представление о микроструктурах и микропроцессах с разрешением 50 нм, что ранее было не доступно с помощью обычных рентгеновских технологий.
Использование рентгеновского излучения с энергией 8 кэВ позволяет UltraXRM-L200 исследовать текстуры и материалы в их естественном состоянии. Интегрированная технология фазового контраста, основанная на методе Цернике, повышает различимость границ зерен и границ раздела материалов при относительно низком контрасте показателей поглощения.
Преимущества:
- Неразрушающая система трехмерной визуализации с помощью рентгеновского излучения позволяет получать повторные изображения одного и того же образца при различных условиях
- Большое рабочее расстояние и атмосферная среда в камере позволяют проводить in situ исследования
- Автоматическая регулировка и юстировка при получении изображения для реконструкции томограммы
- Переключаемое поле зрения в диапазоне от 15 до 60 мкм
- Визуализация происходит в режиме фазового контраста Цернике или режиме поглощения
Характеристики:
- Диапазон напряжений 20 – 40 кВ
- Максимальная мощность1.2 кВ
- Энергия излучаемых фотонов 8 кэВ
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Carl Zeiss |
| Страна производитель | Германия |
- Цена: Цену уточняйте
