Система двулучевая VERSA 3D DUALBEAM™
- Под заказ
Отправка с 15 мая 2026Цену уточняйте
+375 (29) 370-80-76
Система двулучевая VERSA 3D DUALBEAM™
Цену уточняйте
Под заказОписание
Характеристики
Информация для заказа
Компания FEI представляет самую многофункциональную на настоящий момент двулучевую систему - Versa 3D. Данный микроскоп предлагает выдающееся качество полученных изображений и анализа для получения большего объема трёхмерных данных даже для самых сложных образцов.
Назначение прибора:
Качественный и количественный микрорентгеноспектральный анализ (EDS) в точке, распределение элементов по линии и на площади. Двулучевая система c интегрированными электронным и ионным пучками (FIB/SEM) позволяет: получать высококачественные изображения по композиционному и топографическому контрасту, изготавливать поперечные сечения для исследования подповерхностных слоев, травить и напылять по шаблону.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | FEI |
| Страна производитель | США |
- Цена: Цену уточняйте
