Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Keyence VK-X100/X200

Описание:

Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) серии VK-X100/X200 сочетает в себе преимущества оптического и сканирующего электронного микроскопов, а также профилометра. 
Основным назначением микроскопа является измерение профиля и шероховатости поверхности. ЛСМ удобен в эксплуатации, так как у него отсутствует вакуумная система. Для проведения исследований не требуется предварительной подготовки образца.

По сравнению с оптическими микроскопами ЛСМ имеет большую глубину фокуса, обеспечивает 3-D изображения и цветные изображения с хорошим увеличением, измеряет толщину пленок прозрачных объектов. Микроскоп Keyence VK-X100/X200 имеет увеличение от 200х до 24000х крат и разрешение 0,5 нанометров. 

Особенности и преимущества Keyence VK-X100/X200:

• Высокое разрешение, увеличение до 24000х
• Возможность получения цветного 16-битного изображения без потери разрешения.
• Высокая степень локальности исследования с сохранением рельефа исследуемой поверхности
• Мощный программный комплекс для измерений, анализа и обработки изображений: 
  • наличие широкого спектра измерительных инструментов (измерение высоты, ширины, поперечного сечения, угла или радиуса профиля в разрезе)
  • измерение шероховатости поверхности с большой точностью на выбранном участке объекта;
  • бесконтактное измерение в XYZ координатах, измерения в 3D, профилометрия;
  • измерение объема, площади поверхности и отношение участка к площади поверхности объектов;
  • 3D-моделирование, а также сравнительный анализ полученных моделей;
  • работа с несколькими образцами большого размера одновременно.
• Функция Al-Scan:
  • автоматическая корректировка чувствительности лазера и высоты/угла наклона луча относительно образца;
  • автоматическая настройка пределов измерения;
  • автоматическое проведение второго «уточняющего» сканирования с целью предотвращения возможных искажений первого.
• Wide-Scan - функция сшивки изображений высокого разрешения позволяет оценивать исследуемый объект в макромасштабе.
• Визуализацию мельчайших деталей исследуемого объекта.
• Функция C-laser DIC сочетает данные, полученные с помощью измерительных инструментов и первоначальную визуализацию объекта, делая изображение более характеристичным.