Описание:
Модель Aspex Extreme имеет меньшие размеры, чем обыкновенный стационарный сканирующий электронный микроскоп. Aspex Extreme легче весит и чрезвычайно прост в эксплуатации и в подготовке к эксплуатации.
Данная модель микроскопа обеспечивает точность исследований как в лабораторных, так и полевых условиях!
Система разработана, чтобы удовлетворить любые требования исследователей при запуске прибора в эксплуатацию в любых услових: на суше или на море.
Aspex EXtreme представляет собой всю мощь SEM/ EDX микроскопа, с той только разницей, что он весит на 60% легче и имеет небольшие размеры, такие, что его можно загружать для перевозки через люк самолета-носителя.
Технические характеристики:
|
Разрешение |
30 нм |
|
Размер определяемых частиц |
от 500 нм до 5 мм |
|
Детекторы |
Quad BSED &SDD |
|
Разрешение по энергии |
133 эВ |
|
Наиболее легкий из определяемых элементов |
Бор |
|
Ускоряющее напряжение |
от 5 до 20 КэВ |
|
Диапазон перемещения столика |
80х100 мм XY |
|
Вакуумная система |
High-Vac &V.P. |
|
Специальное программное обеспечение |
AFA/CFA, JEMM, MQA and AQC |
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | FEI |
| Страна производитель | США |
- Цена: Цену уточняйте


Отправка с 15 мая 2026