Описание
Характеристики
Информация для заказа
Описание:
Новый класс инструментов с экстремально высоким разрешением (XHR SEM). Позволяет видеть трехмерные изображения поверхностей образцов под различными углами при разрешениях менее одного нанометра (порядка размеров десяти атомов водорода, выстроенных рядом в линейку). Важно, что микроскопы Magellan XHR SEM обеспечивают визуализацию образцов при очень низких энергиях электронного пучка.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | FEI |
| Страна производитель | США |
| Состояние | Новое |
- Цена: Цену уточняйте


Отправка с 15 мая 2026