Лазерный микроскоп Olympus OLS LEXT 4100
- Под заказ
Отправка с 02 июня 2024Цену уточняйте
+375 (29) 370-80-76
Лазерный микроскоп Olympus OLS LEXT 4100
Цену уточняйте
Под заказОписание
Характеристики
Информация для заказа
Новейшая разработка в области лазерной конфокальной микроскопии. Микроскоп является метрологической системой, которая впервые среди лазерных конфокалов имеет характеристики, подтверждающие ее и точность и воспроизводимость.
- Встроенная виброзащитная рама.
- Уникальная сканирующая система (scanner-on-scanner) с технологией «двойная пиноль» позволяет измерять образцы с наклоном до 85°.
- Система работает в светлом поле, поляризованном свете и цветном ДИК.
- Есть 3 режима лазерного сканирования.
- Самое высокое разрешение на сегодняшний день среди подобных сканирующих микроскопов (по горизонтали до 120 нм, по вертикали до 10 нм!).
- Общий диапазон увеличений, в зависимости от используемых объективов от 50 до 17280 крат.
- Неразрушающие 2D и 3D измерения объекта в режиме реального времени.
- Моторизованный ультразвуковой безлюфтовый столик 100х100мм, позволяющий установить крупный образец, высотой до 100мм.
- Высокая скорость сканирования.
- Автоматическая фильтрация шумов.
- Автоматическая обработка и анализ изображения, измерение высот, дистанций, площадей, объемов, анализа частиц линейной и плоскостной шероховатости, определение края и др.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Olympus |
| Страна производитель | Япония |
| Состояние | Новое |
- Цена: Цену уточняйте
