Дифрактометр с гониометром на платформе PreFix PANalytical XPert PRO
- Под заказ
Отправка с 15 мая 2026Цену уточняйте
Описание:
Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон.
В дифрактометре используется горизонтальный гониометр высокого разрешения.
Размещение оптических модулей спроектировано на уникальной разработке PANalytical - платформе PreFIX(Pre-aligned Fast Interchangeable X-ray modules) с жесткой стабилизацией позиции.
Не имеющая аналогов платформа PreFIX с использованием технологий прецизионной механики позволяет производить смену оптических модулей максимально быстро (за время не более 20-50 сек) и без дополнительной юстировки. Таким образом, в одном дифрактометре обеспечивается возможность без труда проводить измерения порошков, моно- и поликристаллов, полупроводников, пленок, поверхностей и т.д. последовательно, просто заменив соответствующую приставку без последующей утомительной юстировки.
Области применения:
- дифрактометрия высокого разрешения
- анализ текстуры и напряжений
- анализ кривых качания, оценка совершенства упорядоченных структур
- построение карт обратного пространства эпитаксиальных пленок и слоев
- рефлектометрия
- наноисследования, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering)
- анализ тонких и очень тонких нанопленок
- фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью, метод Ритвельда
- дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
- анализ монокристаллов и др.
Уникальные возможности:
- система для измерений дифракции в плоскостях решетки, перпендикулярных типовой плоскости
- extended-позиция - удлиненное плечо первичной оптики гониометра для получения максимального разрешения и интенсивности в параллельно-лучевой геометрии с рентгеновским параболическим зеркалом и любым из монохроматоров Бартеля
- вторичная оптика для анализа тройных осей (анализатор), кривых качания, карт обратного пространства и т.п. - система для анализа с высочайшей разрешающей способностью полупроводников, эпитаксиальных высокоупорядоченных пленок, в т.ч. очень тонких
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | PANalytical |
| Страна производитель | Нидерланды |
- Цена: Цену уточняйте
