Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean
- Под заказ
Отправка с 15 мая 2026Цену уточняйте
+375 (29) 370-80-76
Рентгеновский дифрактометр PANalytical Empyrean
Цену уточняйте
Под заказОписание
Характеристики
Информация для заказа
Описание:
Empyrean - уникальный по своим возможностям рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным q - q гониометром высокого разрешения. Благодаря модульной конструкции предназначен как для научных исследований, так и для аналитического контроля в промышленности, сочетает возможности классического порошкового и исследовательского дифрактометра.
Аналитические задачи, решаемы на дифрактометре Empyrean:
- Идентификация фаз, в том числе в режиме "на просвет", количественный фазовый анализ, определение аморфной компоненты;
- Определение и уточнение параметров элементарной ячейки;
- Идентификация фаз (по слоям), рефлектометрия (определение толщины и плотности слоев);
- Анализ эпитаксиальных структур;
- Картирование в обратном пространстве;
- Определение напряжений в слоях, анализ текстуры;
- Идентификация фаз в наноструктурах, измерение размеров наночастиц;
- Малоугловое рассеяние;
- Микродифракция;
- Определение размеров кристаллитов и микронапряжений;
- Анализ текстур и напряжений;
- Высоко и низкотемпературные исследования;
- Изучение процессов кристаллизации и фазовых переходов при изменении температуры;
- Получение трехмерной картины исследуемого объекта (компьютерная томография)
Области применения
- О дин дифрактометр способен выполнять все задачи рентгеновской дифрактометрии:
- Классический фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью детектирования
- Определение, уточнение параметров элементарной ячейки
- Определение фаз по слоям
- Микродифракция
- Анализ текстуры, построение полюсных фигур
- Определение напряжений и размера кристаллитов
- Анализ тонких и очень тонких пленок, многослойных покрытий
- Анализ эпитаксиальных пленок, высокоупорядоченных структур, анализ кривых качания, построение карт обратного пространства, оценка совершенства структур
- Анализ монористаллов
- Рефлектометрия, определение толщины и плотности слоев
- Анализ наноразмерных порошков и материалов
- Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering), анализ размерного разпределения наночастиц
- Дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
- Проведение исследований в экстремальных условиях обработки
- Определение фазовых переходов при изменении параметров кристаллической наноструктуры
- Кластерный анализ
- Томографическое сканирование, построение и отображение 3D-проекций внутренней структуры веществ (дефектоскопия)
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | PANalytical |
| Страна производитель | Нидерланды |
- Цена: Цену уточняйте
