Микроспектрофотометр CRAIC Technologies 20/30 PV™

Описание:

Современный микроспектрофотометр для спектрометрии в УФ-видимой-БлИК областях.

Инновационный микроспектрофотометр 20/30 PV™ – это новейший и самый многофункциональный прибор CRAIC Technologies. Созданный в соответствии с вашими требованиями, данный специализированный прибор сочетает в себе новейшие технологические достижения в области оптики, спектроскопии и программного обеспечения, что обеспечивает превосходную производительностьс беспрецедентной скоростью анализа и набором возможностей. Как и всё оборудование CRAIC данный спектрофотометр прост в эксплуатации и является ультрасовременным прибором для проведения микроспектроскопического анализа в УФ-видимой-БлИК областях.

Микроспектрофотометр 20/30 PV™ сочетает в себе новейшие технологии, которые позволяют пользователю измерять передачу, комбинационное рассеяние, коэффициент отражения, поляризацию и флуоресценцию спектра микроскопических образцов в УФ-видимой-БлИК областях.

20/30 PV™ также может измерять толщину пленок и определять цветовое пространство. В процессе определения микроспектра, пользователь может просматривать цифровое изображение образца в высоком разрешении в области УФ излучения, видимом свете либо ближнем инфракрасном диапазоне.

Система 20/30 PV™оснащена обширным набором функций, программным обеспечением для автоматизации исследований и обладает улучшенной эргономикой, что максимально упрощает рабочий процесс. 

Простота использования, возможность неразрушающих измерений, а также комплексность получаемых спектральных данных делают микроспектрофотометр 20/30 PV™ незаменимым, непревзойденным инструментом для применения в любой среде.

Особенности

20/30 PV™: превосходные изображения и спектры микроскопических образцов в УФ-видимой-БлИК областях.

• Спектральный диапазон: от 200 до 2500 нм;
• Микроспектроскопия в проходящем светеУФ-видимого-БлИК диапазона;
• Визуализация пропускания в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Микроспектроскопия отражения в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Визуализация отражения в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Микроспектроскопия флуоресценции в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Микровизуализация флуоресценции в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Микроспектроскопия комбинационного рассеяния;
• Микроспектроскопия фотолюминесценции в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Визуализация фотолюминесценции в УФ-видимом-БлИК диапазоне;
• Поляризационная микроспектроскопия в УФ-видимой-БлИК областях;
• Поляризационная микромасштабная визуализация в УФ-видимой-БлИК областях;
• Измерение толщины пленок;
• Колориметрия микроскопических образцов;
• Измерение индекса преломления с комплектом rIQ™;
• Ручной либо полностью автоматический режим работы;
• Технология Lightblades™;
• Встроенные матричные детекторы с термоэлектрическим охлаждением, низким уровнем шумов и высокой долговременной стабильностью;
• Прецизионный контроль температуры образцов;
• Калиброванные, переменные области измерений с размером меньше микрона;
• Превосходная визуализация как при использовании окуляров, так и в цифровом формате;
• Спектроскопическое программное обеспечение Lambdafire™для управления визуализацией и анализа споддержкой сенсорного управления;
• Специализированные программные модули для статистического анализа, спектрального отображения, спектральная база данных, анализ изображений и многое другое;
• Простота в эксплуатации и обслуживании;
• Разработан экспертами в области спектрометрии.

Микроспектроскопия в УФ-видимой-БлИК областях

Высокотехнологичное оборудование для микроскопии от ведущего производителя в отрасли

Полностью интегрированная микроспектроскопическая установка, работающая в спектральном диапазоне от глубокого УФ до видимого и ближнего инфракрасного излучения. Одновременное и прямое отображение апертуры выборки и образца для быстрых и точных измерений. Технология Lightblades™ для измеренияспектров пропускания, отражения, поляризации и флуоресценции вплоть до субмикронных образцов.

CRAIC Technologies также является единственным признанным производителем прослеживаемых до NIST стандартных образцов длямикроспектрометров.

Микроспектроскопия комбинационного рассеяния

Гибкая комбинационная микроспектроскопия

В сочетании с модулем Раман-спектрометра CRAIC Apollo™ микроспектрофотометр 20/30 PV™ может выполнять анализ с применением комбинационной микроспектроскопии, резонансного комбинационного рассеяния и других типов измерений микроскопических образцов. Модули включают лазеры, спектрометры комбинационного рассеяния и оптику, которые позволяют получать высококачественные спектры комбинационного рассеяния Ваших образцов.

Высокочувствительная эмиссионная микроспектроскопия и визуализация

 
20/30 PV™ может быть сконфигурировандля определения спектров флуоресценции, люминесценции и визуализации микроскопических образцов. Благодаря технологии Lightblades™, возможности возбуждения и измерения в диапазоне от ультрафиолетового до ближнего инфракрасного излучения, 20/30 PV ™ является мощным инструментом для микрофлуорометрии и может применяться при исследованиях материалов, в биологии, геологии и других научных областях.

Микроспектроскопия и визуализация поляризации в УФ-видимой-БлИК областях

20/30 PV™ может быть настроен для получения спектров поляризации и изображений даже самых маленьких образцов. Благодаря технологии Lightblades ™ и спектральному диапазону от УФ до ближнего инфракрасного излучения, возможности20/30 PV™ вобласти поляризационной микроспектроскопии превосходят любые аналогичные решения.  Данная высокотехнологичная система позволяет быстро и легко получать спектры, изображенияи поляризационные характеристики двоякопреломляющих и других типов образцов. 

Построение поверхности спектрального распределения™

Сочетание аппаратного и программного обеспечения для автоматического спектрального анализа и трехмерного построения спектрального распределения образцов с микроскопическим пространственным разрешением. Могут быть сформированы трехмерные карты поглощения, светопропускания, отражения, флуоресценции, излучения и спектров комбинационного рассеяния.

Превосходное качество изображения от УФ до ближнего инфракрасного диапазона

20/30 PV™ включает уникальный микроскоп, работающий в УФ-видимой-БлИК областях с оптикой исследовательского класса.

В программном обеспечении 20/30 PV™ применяются сложные алгоритмы обработки изображений, что позволяет получать цифровые изображения высокой четкости во всем спектральном диапазоне. Такой подход обеспечивает визуализацию в реальном времени и позволяет быстро и просто захватывать изображения образцов при микроскопии прохождения, отражения, поляризация и флуоресценции. 

Спектры больших образцов с микроскопическим пространственным разрешением

Микроспектрофотометр 20/30 XL™ предназначен для определения спектров, визуализации и измерения толщины пленок больших образцов с определением их микроскопических характеристик. «XL» означает «очень большой», и именно для таких образцов был создан данный прибор.

Область применения

• Измерение толщины полупроводниковых пленок
• Микроэлектромеханические системы
• Повeрхностныйплазмонныйрeзонанс
• Фотонные кристаллы
• Обнаружение примесей
• Белковые кристаллы
• Судебная медицина
• Лекарственная химия
• Сомнительные документы
• Органические светодиоды
• Цветовые маски плоских панелей
• Комбинаторная химия