Описание
Характеристики
Информация для заказа
Описание:
Английская компания KORE спроектировала и серийно производит новый компактный инструмент TOF-SIMS который является мощным прибором для исследования поверхности любых материалов для заказчиков из разных областей промышленности и науки по цене примерно в 3 раза меньшей, чем исследовательские приборы класса Hi-End. Данный инструмент спроектирован как «рабочая лошадка» для спектроскопистов для обоих режимов работы: негативном и позитивном, имеет высокое разрешение, более чем 2000 и точность по массе около 5 х 10-3 а.е.м.
Особенности:
- Анализ поверхности методом ВИМС.
- Поверхностная масс-спектрометрия.
- Анализ проводников и диэлектриков.
- Анализ положительных и отрицательных вторичных ионов.
- Разрешение лучше чем 2000 M/ΔM (возможно до 3000 ).
- Анализатор типа Рефлектрон.
- Диапазон исследуемых масс >1000m/z.
- Возможность распыления образца для очистки поверхности.
- 5 мин откачки для начала анализа образца.
- Пролучение спектра образца в течение менее минуты.
- Компактный прибор.
- Очень доступная цена.
- Есть возможность дооснащения
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | KORE |
| Страна производитель | Великобритания |
| Состояние | Новое |
- Цена: Цену уточняйте


Отправка с 14 мая 2026