Начать продавать на Deal.by
Корзина
Нет отзывов, добавить
+375 (29) 370-80-76
Корзина

Рамановские спектрометры Nost Prism

Рамановские спектрометры Nost Prism
  • Под заказ
clockОтправка с 28 марта 2026

Цену уточняйте

+375 (29) 370-80-76

Заказ только по телефону

Рамановские спектрометры Nost PrismРамановские спектрометры Nost Prism
Цену уточняйте
Под заказ
+375 (29) 370-80-76
Описание
Информация для заказа

Описание:

Высокотехнологичная компания из Ю.Кореи – NOST выпускает широкий спектр аналитического оборудования, среди них Рамановские спектрометры:

PRISM-basic – Рамановский спектрометр, экономичная и надежный инструмент исследователя для характеризации различных материалов, но более всего подходящий для работы с графеном.

PRISM-VIS спектрометр для характеризации различных материалов с расширенным спектральным диапазоном от 0 до 1050 нм.

PRISM-UV-VIS - спектрометр для характеризации различных материалов с расширенным спектральным диапазоном от 0 до 1050 нм и дополнительным объективом для УФ области.

 

Краткое описание и преимущества:

  • Прибор с высокой чувствительностью.
  • Есть функция маппинга.
  • Можно выбрать разные решетки и источник возбуждения.
  • Стандартный источник возбуждающего света – лазер с длиной волны  532 нм.
  • Дополнительные опциональные источники: 488 нм, 514,5 нм, 532 нм, 633 нм, 785 нм.
  • Смена источника возбуждения проста и происходит быстро.
  • Очень доступная в сравнении с ведущими производителями цена.

 

Пример спектра с образца Графена:

 

Чувствительность:

  • Используемый объектив: 100Х, 0,9 NA.
  • Время экспозиции: 60 сек.
  • Мощность лазера: 4 мВт.
  • Длина волны лазера:  532 нм.
  • ПЗС –матрица в данном тесте была базовая модель Аndor IDUS. Поэтому квантовая эффективность была невелика <55%.

 

Область применения:

Рамановский спектрометр используется для характеризации различных материалов в форме жидкостей, газов или твердых веществ. Весьма широко Рамановский спектрометр используется для исследования 2D материалов:  углеродных нанотрубок, графена, MoS2 или тонких пленок, осажденных в вакууме, например BaTiO3, TiO2 или ZnO.

 

Особенности:

Быстрое и надежное измерение:

  • Измерения соотношения пиков G и 2D
  • Удобное ПО для картирования поверхности
  • Размер пятна на образце – 1 мкм
  • XY шаг разрешения – 0,1 мкм
  • Диапазон перемещения XY: 75x50 мм
  • Цена: Цену уточняйте