Дилатометр закалки TA Instruments DIL805A

Описание:

Закалочный дилатометр DIL805A фирмы TA Instruments полностью автоматизированный анализатор изменений линейных размеров в экстремальных условиях контролируемого нагрева и охлаждения. Он разработан для установки различных модулей, включая модуль деформации 805D, адаптер растяжения, модуль ДСК/ДТА, модуль измерения КЛТР.     

Во многих случаях окончание мартенситного превращения (Mf) в сталях находится ниже комнатной температуры. Низкотемпературный модуль с температурным диапазоном от -160°С до 1300°С скоростью охлаждения 2500 К/сек позволяет полностью регистрировать переход от аустенита к мартенситу. Для этого используется уникальная технология охлаждения гелием без прямого контакта с жидким азотом. Она значительно улучшает теплообмен, при этом устраняются проблемы, связанные с жидким азотом, включая конденсацию, химическое взаимодействие и нестабильность скорости охлаждения.

В модуле для измерения КЛТР используются кварцевые толкатели и дифференциальный трансформатор линейного перемещения, аналогичный дилатометру DIL802. Это позволяет использовать DIL805, как традиционный дилатометр. Модуль ДСК/ДТА предназначен для определения фазовых переходов и процессов рекристаллизации (преципитации) может быть использован для получения дополнительной информации к результатам традиционных методов. Для этого модуля реализуются скорости нагрева и охлаждения до 500 К/мин, что соответствует большинству технологических процессов.     

По результатам тестов DIL805A могут быть постоены диаграмма CCT и TTT. На диаграммах превращений при охлаждении (CCT) и изотермического превращения (TTT) показаны фазовые переходы при охлаждении с разными скоростями и разных временах выдержки. При тепловой обработке металлов диаграммы CCT и TTT используются для прогнозирования конечной кристаллической структуры сталей. Кристаллическая структура, в свою очередь, определяет физические свойства и применимость материала.

Программное обеспечение DIL805A позволяет автоматически строить бесступенчатые диаграммы CCT и TTT по полученным экспериментальным кривым.

 

 

 

 

Технические характеристики