Рентгеновский флуоресцентный спектрометр Olympus ВТХ Profiler
- Под заказ
Отправка с 17 мая 2026Цену уточняйте
Описание:
ВТХ Profiler – это совмещенные в одном приборе дифрактометр и полноценный рентгенофлуоресцентный спектрометр.
ВТХ Profiler позволяет осуществлять структурный (XRD) и количественный элементный (XRF) неразрушающий анализ состава проб высочайшего качества, позволяя получить самую полную информацию о исследуемом образце и сокращая время на проведение операции.
Возможности и преимущества комбинированного XRD/XRF-анализатора ВТХ Profiler:
- Анализ минералогического состава, 2-D-XRD;
- Элементный анализ, ED-XRF;
- Полная интеграция данных;
- Компактность, экономичность, производительность.
Работа BTX Profiler основывается на комбинации методов рентгеновской флуоресценции (XRF) и рентгеновской дифракции (XRD) в одном приборе.
Метод XRD-анализа двумерной передачи, основанный на разработках запатентованного проекта Марсианской лаборатории «Curiositi», использует микрофокусные рентгеновские лучи в сочетании с ПЗС-детектором высокого разрешения. Метод, основанный на собственных изобретениях компании OLYMPUS, использует оптимальную траекторию пучка рентгеновской трубки, специальные фильтры и дрейфовый кремниевый детектор (SDD) большей площади
- Микрофокусная рентгеновская трубка XRD
- Рентгеновский пучок XRD
- Коллиматор XRD
- Образец для анализа XRD
- ПЗС-детектор
- Рентгеновская трубка XRF
- Сменный фильтр
- Рентгеновский пучок XRF
- Образец для анализаXRF
- Кремниевый детектор XRF
Рентгеноструктурный анализ (XRD) образцов:
Источник рентгеновского излучения возбуждает электроны в атоме, а ПЗС-детектор фиксирует двумерную дифракционную картину, возникающую в результате взаимодействия электронов с кристаллическим веществом (фаза). Данная картина носит название кольцо Дебая или Дифракционное кольцо. Каждое кольцо представляет собой максимум дифракционной диаграммы, а яркость кольца – интенсивность. ПЗС-детектор одновременно измеряет все элементы. Программное обеспечение обработки данных преобразует двумерное изображение в график зависимости «интенсивность vs. энергия». Затем энергия переходит на значение 2θ для графика, сопоставимого с данными традиционного дифрактометра. Дифрактограмма, аналогично отпечаткам пальцев, помогает диагностировать минералы.
Спектральный анализ (XRF)
Рентгеновское излучение миниатюрной трубки возбуждает материал на атомном уровне; в результате чего электроны выбиваются из внутренних оболочек атомов элементов. Пустые места в оболочках занимаются другими электронами атома. Детектор измеряет характеристические энергии, испускаемые элементом при переходе электрона между орбиталями, и по ней идентифицирует присутствующие в материале элементы.
Настольный дифрактометр BTX выпускается в трех конфигурациях:
 |
BTX Profiler для измерения одиночных проб оснащен функциями XRD/XRF-анализа; измерение каждого образца происходит по очереди. Базовый модуль имеет одну ячейку для проб; дополнительные ячейки доступны по заказу клиента. Для этой конфигурации BTX Profiler доступен механизм продувки сжатым гелием, использующийся для анализа легких элементов. |
|
|
BTX Profiler для анализа нескольких проб имеет встроенный автоматический пробоотбор, функции XRD и XRF сканирования, и может одновременно анализировать до 20 проб. BTX Profiler может применятся для проведения продолжительного анализа или для сбора данных без присутствия оператора. Базовый модуль имеет четыре ячейки для образцов; дополнительные ячейки доступны опционально. Для этой конфигурации BTX Profiler доступен механизм продувки сжатым гелием, использующийся для анализа легких элементов. |
|
|
BTX-II для анализа одиночных проб оснащен всеми функциями минералогического (XRD) анализа, но использует только элементарные данные рентгеновской флуоресценции (качественный анализ), полученные с помощью ПЗС-детектора. BTX-II проводит измерения каждого образца по очереди. |
Технические характеристики BTX Profiler:
| Параметры |
BTX Profiler для анализа одиночных проб |
BTX Profiler для анализа нескольких проб |
|
Технические характеристики XRD |
||
|
Диапазон рабочих углов дифрактометра |
5-55 градусов 2θ |
5-55 градусов 2θ |
|
Угловое разрешение детектора дифрактометра |
0,25 град. 2θ |
0,25 град. 2θ |
|
Тип и размер детектора XRD |
Двумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье; 1024 × 256 пикс. |
Двумерный ПЗС-детектор, охлаждаемый элементом Пельтье; 1024 × 256 пикс. |
|
Крупность образца |
< 150 мкм измельченного порошка (размер ячейки сита: 100) |
< 150 мкм измельченного порошка (размер ячейки сита: 100) |
|
Другие виды проб |
Гели, смазочные материалы |
Гели, смазочные материалы |
|
Объем пробы |
~ 34 mg |
~ 34 mg |
|
Материал анода рентгеновской трубки |
Медь (кобальт) |
Медь (кобальт) |
|
Напряжение рентгеновской трубки |
30 кВ |
30 кВ |
|
Макс. сила тока рентгеновской трубки |
330 μA |
330 μA |
|
Технические характеристики XRF |
||
|
Детектор XRF |
Кремниевый дрейфовый, большей площади |
Кремниевый дрейфовый, большей площади |
|
Материал анода рентгеновской трубки |
Rh |
Rh |
|
Тип рентгеновской трубки |
Торцевая геометрия |
Торцевая геометрия |
|
Напряжение рентгеновской трубки |
40 кВ |
40 кВ |
|
Макс. сила тока рентгеновской трубки |
200 μА |
200 μА |
|
Анализ легких элементов |
Продувка гелием ~ 0,25 л/мин |
Продувка гелием ~ 0,25 л/мин |
|
Фильтр первичного излучения |
Автоматическая программируемая 7-позиционная система фильтров |
Автоматическая программируемая 7-позиционная система фильтров |
|
Объем пробы |
~245 мг |
~245 мг |
|
Диапазон рабочих температур |
от –10°C до 35°C |
от –10°C до 35°C |
|
Вес |
23,13 кг / модуль для анализа одиночных образцов |
32,66 кг / модуль с автоматическим пробозабором до 20 проб |
|
Габариты |
49,3 × 39,7 × 34,4 см / модуль для одиночных образцов |
67,4 × 39,7 × 34,4 см / модуль с автоматическим пробозабором до 20 проб |
Применение BTX Profiler:
Комбинация в приборе BTX Profiler двух методов анализа (2-D XRD и ED-XRF) позволяет осуществлять элементный состав проб и одновременно получать информацию о минералогии материала, что позволяет применять прибор в следующих областях:
- Поиск новых источников энергии
- Разработка новых месторождений полезных ископаемых
- Геолого-технологические исследования
- Минералогический анализ
- Контроль качества руды
- Обогащение руды
- Контроль качества лекарственных средств
- Формирование библиотеки спектров лекарственных средств
- Разработка катализаторов
- Криминалистика
- Коррозионный мониторинг
- Наука и образование
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Olympus |
| Страна производитель | Япония |
| Состояние | Новое |
- Цена: Цену уточняйте
