Система ионного травления Leica EM TIC3X
- Под заказ
Отправка с 13 июня 2026Цену уточняйте
+375 (29) 370-80-76
Система ионного травления Leica EM TIC3X
Цену уточняйте
Под заказОписание
Характеристики
Информация для заказа
Описание:
Leica EM TIC3x - система трехлучевого ионного травления материалов на большую глубину. Система использует принцип одновременного поперечного травления с трех направлений для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения микроструктурного анализа (EDS, WDS, Auger и EBSD).
Держатель образцов позволяет обрабатывать образцы с размерами до 50х50х10мм. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп.
- Встроенный стереомикроскоп позволяет полностью контролировать процесс травления.
- Три ионных пушки, позволяющие проводить одновременное травление с трех направлений, обеспечивают высокое качество поверхности и хорошую повторяемость результатов.
- Сенсорная панель управления снимает необходимость специального обучения пользователя работе на приборе, все интуитивно и просто.
- Для обработки чувствительных материалов может быть установлен стол, позволяющий охладить держатель образца и маску до -150° C.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Leica |
| Страна производитель | США |
- Цена: Цену уточняйте
