X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности HIOKI 1240
- Под заказ
Отправка с 13 июня 2026Цену уточняйте
Описание
X-Y тестер дефектов контактов микросхем и их работоспособности с возможностью измерения номиналов SMD компонентов
Прибор HIOKI 1240 обеспечивает самый точный контроль качества пайки выводов микросхем.
С помощью высокоточных прецезионных измерений проводится четырехконтактное измерение сопротивления, то есть используется метод измерения милиомметром и сравнения с пороговыми значениями.
Минимальный размер дорожки или вывода микросхемы 0,3 мм, шаг 0,5 мм.
При некачественной пайке вывод микросхемы может прилегать не вплотную к дорожкам микросхемы.
В результате на высоких частотах возникают паразитные эффекты, а при воздействии температур и вибрации такая микросхема может отпасть.
Фотография хорошего и плохого контакта вывода микросхемы с печатной платой
Так же прибор 1240 определяет наличие установленных компонентов, их полярность, точность пайки, отклонения и сдвиги.
Отличной функцией является возможность измерения характеристик реле.
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Hioki |
| Страна производитель | Япония |
- Цена: Цену уточняйте
