Система измерительная для БИС Teradyne UltraFLEX
- Под заказ
Отправка с 29 июня 2026Цену уточняйте
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы, формирователи и измерители временных параметров.
Отличительные особенности:
- до 2240 цифровых каналов
- до 500 МГц частота тестового вектора
- до 192 аналоговых каналов
Области применения:
Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе.
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами.
Опции:
Модуль Memory Test Option (MTO):
- встроенная программно-аппаратная опция для реализации тестирования микросхем памяти;
- автоматическая генерация алгоритма проверки (X,Y адрес 16 разрядов, данные – 32 разряда);
- отслеживание ошибок чтения/записи «на лету»;
- частота тестирования до 100 МГц.
Модуль SCAN test:
- Реализация тестирования микросхем через JTAG интерфейс
- Объединение нескольких каналов в последовательную цепь с увеличением объёма памяти
Буферированный ввод вывод:
- Реализации тестирования микросхем АЦП и ЦАП.
- Задание цифрового кода (для ЦАП) либо считывание значений (для АЦП) в асинхронном режиме.
- Включает в себя 6 независимых 16-ти разрядных сигнальных процессора с памятью до 16 Мбит (256 Мбит памяти на каждый процессор).
- Возможность объединения процессоров для увеличения разрядности до 32-х
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Teradyne |
| Страна производитель | США |
- Цена: Цену уточняйте
