Профилометр Bruker ContourGT-X

Описание:

Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.

ContourGT-X - полностью автоматизированная система со встроенной виброизоляцией. Функция автокалибровки системы в совокупности с высокой скоростью измерений без потери в разрешении, значительно ускоряют процесс измерений, что делает эту систему идеальной для работы с потоком образцов. 

ContourGT-X – самый надежный метрологический инструмент для объемного производства офтальмологических линз, медицинских приборов, полупроводниковых приборов, деталей прецизионной обработки и многого другого.

Особенности:

• Высокоскоростной автофокус, большое разрешение матрицы камеры, большое моторизованное основание для образцов, интегрированная система виброизоляции, доступный расширенный пользовательский интерфейс превращают ContourGT-X в мощный инструмент для контроля качества продукции на различных технологических этапах, а также делают систему незаменимым помощником в центрах коллективного пользования.
• Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм.
• Система автокалибровки обеспечивает аккуратность и воспроизводимость измерений.
• Увеличенная скорость сканирования с вертикальным разрешением на уровне 0,1 Å и c повторяемостью результатов на уровне 0,04 Å (RMS) делают ContourGT-X уникальной системой для экспресс-анализа поверхностей материалов с высочайшей точностью.
• Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.

Технические характеристики:

Дополнительное оборудование

Объективы и линзы поля зрения

К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.

Камеры

В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер: 

• С разрешением 1280 x 960 пикселей
• Цветная с разрешением 640 x 480 пикселей

Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™

NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась

Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.

Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.