Измерительная станция (профилометр) JENOPTIK Hommel-Etamic Nanoscan 855
- Под заказ
Отправка с 24 марта 2026Цену уточняйте
Описание:
Hommel-Etamic Nanoscan 855 — высокоскоростной оптико-механический комбинированный прибор высочайшей точности, предназначенный для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.
Очень высокое разрешение 0,6 нанометра в сочетании с большим диапазоном измерения 24 мм позволяет Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIKпозволяет прибору осуществлять синхронное сверхточное измерение характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях. Помимо высокой точности хода, Nanoscan 855 JENOPTIK имеет отличные точностные характеристики параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне. Высокие требования точности соблюдены благодаря специально составленной системе воздушного демпфирования и корпуса, которые сводят к минимуму внешние влияния на процесс измерения.
Возможность работы с ЧПУ позволяет полностью автоматизировать процесс измерения, устанавливая параметры для измерения в зависимости от используемого датчика. Это сводит к минимуму вмешательство оператора и исключает возможность ошибки при эксплуатации, обеспечивая максимальную производительность при высоком контроле качества.
Особенности и преимущества измерительной системы Hommel-Etamic Nanoscan 855 JENOPTIK
- Эргономичный дизайн;
- Система активного подавления вибрации;
- Управление станции с джойстиком;
- Измерение шероховатости и контура за один проход;
- Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время;
- Возможность измерения шероховатости на сферах;
- Сверхнизкие внутренние шумы;
- Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки;
- Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью: окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.
Технические характеристики:
|
|
Параметр |
ед. изм. |
Величина |
В горизонтальной плоскости |
|||
|
Длина трассирования |
мм |
0,1 … 200 |
|
|
Скорость трассирования |
мм/с |
0,05 … 10 |
|
|
Скорость измерения |
мм/с |
0,05 … 5 |
|
|
|
Интервал выборки данных |
мкм |
0,01 … 10 |
|
Прямолинейность хода |
мкм/мм |
0,4 / 200 |
|
В вертикальной плоскости |
|||
|
Измерительный диапазон |
мм |
24 |
|
|
Разрешение |
нм |
0,6 |
|
|
Измерительное усилие |
мН |
±0,5 … 50 |
|
| Основные | |
|---|---|
| Производитель | Jenoptik |
| Страна производитель | Германия |
- Цена: Цену уточняйте
